X衍射分析仪

【仪器型号】：X’Pert Pro MPD

【制造厂商】：荷兰Philips公司

【开放培训】：已开放

【仪器状态】：使用正常

【主要性能指标】

（1）加速电压≤ 45 kv，管流≤ 50 mA，功率≤ 3 kw；（2）角度重现性：0.0001°；（3）角度精度：0.0025°；（4）分辨率：0.037°；（5）2θ范围：0～167°；（6）最小步长：0.0001°；（7）真空度：10-5mb。

【仪器附件】

（1）超能探头；（2）高温样品台：RT～1600℃；（3）低温样品台：-193～450℃；（4）薄膜附件；（5）开放式欧拉样品台：Psi：-5～+95o；（6）Hybrid-平行光单色器，其发散度为0.007度。

【主要软件】

（1）物相分析软件；（2）线形拟合软件；（3）线型分析软件；（4）薄膜厚度分析软件；（5）单晶外延分析软件；（6）全谱似合软件。

【主要用途】

（1）聚焦光路用于物相的定量和定性分析；（2）晶粒尺寸和点阵畸变分析，即微晶粒或镶块的平均尺寸及其分布；（3）点阵参数精确测定；（4）平行光路用于单晶及单晶外延膜摇摆曲线的测定及φ扫描，可以鉴定单晶及单晶外延膜的质量；（5）平行光路用于薄膜的物相分析；（6）薄膜厚度、粗糙度测试；（7）非环境(高温、低温)X射线衍射分析，用于研究材料的热膨胀系数、相变、结晶度、热振动振幅、相平衡关系、原子排列的有序度等。

【备注信息】

陈莉  研究员，刘玲  实验师  联系电话  0551-5591636

仪器位于固体所三号楼110，112室