综合物性测量仪

【主要性能指标】

1．磁场范围：0－±9T

磁场稳定性：1ppm/hour

磁场空间均匀性：5.5cm范围内±0.1%

2．温度范围：1.9－400K，300－1000K(VSM oven)

温度稳定性： ±0.2% @ T<10K，±0.02% @ T>10K

最大变温速率：20K/min

3．样品腔空间：Φ2.5cm

【仪器功能及附件】

1．电阻测量选件（ DC Resistivity）

电流范围：0.01uA-5mA

电压量程：95mV

最大可测量电阻：38.9MΩ@电流DAC极限

功率限制：0.001-1000uW

测量精度：4μΩ@5mA

误差：1%@4MΩ，5－10%@9MΩ

可同时测量样品数：3个

样品尺寸要求：10×10mm2样品台上摆放3个样品

2．交流电输运选件（AC Transport，可测交流R-T、Hall效应、I-V特性、临界电流）

电流范围：10μA—2A

频率范围：DC, AC 1－1k Hz

电压量程：±5 V

电压灵敏度：±1nV

电阻测量精度：最大0.2%；一般0.03%(R<100Ω)

可同时测量样品数：2个

样品尺寸要求：10×10mm2样品台上摆放2个样品

3．水平旋转样品杆（Horizontal Sample Rotator）

转角范围-10°－370°，步长0.05°，重复性<1°，转动速度10°/s

4．热输运性质测量选件（Thermal Transport Option，可测热导率、Seebeck系数、电阻、热电优值）

热导测量精度：±5％或±2 μW/K @ T < 15K；

±5％或±20 μW/K @ 15K < T< 200K;

±5％或±0.5 mW/K @ 200K < T < 300K;

±5％或±1 mW/K @ T > 300K

热导测量范围：1－25 mW/K @ 400 K;

100 μW/K－100 mW/K @ 50 K;

10 μW/K－1 mW/K @ 1.9 K

建议样品几何尺寸：2.5×(5×5)mm3@0.1-2.5W/m.K;

8×(2×2)mm3@2-50W/m.K;

10×(1×1)mm3@10-250W/m.K

Seeback系数测量精度：±5％或±0.5μV/K或2μV，量程：1μV/K－1V/K

电阻测量：零场与AC Transport同，最大电流：200mA  测量精度：± 15 %

测量速度（典型值）： ± 0.5 K/min, T > 20 K

± 0.2 K/min, T < 20 K

5．比热选件（Heat Capacity Option）

温度范围：1.9－350K

样品质量：1－500mg（注：样品必须有一个光滑面以保证可靠热接触）

分辨率：10 nJ/K @ 2K

测量灵敏度：10nJ/K@2K

测量精度：<5%，2-300K （典型值<2%）

5．振动样品磁强计（Vibrating Sample Magnetometer）

温度范围：1.9－320K / 300－1000K(VSM Oven)

灵敏度: < 10-6 emu/Tesla

噪音基: 2 x 10-7 emu rms

精度: < 5 x 10-6 emu/Tesla

振动频率: 40 Hz

振动幅值: 0.5 to 10 mm

最大可测磁矩(emu): 40/振动峰值

探测线圈内径: 6.3 mm

6．扭矩磁强计（Torque Magnometer）

均方根扭矩背景噪音：1×10-9 Nm

均方根磁矩灵敏度：1×10-7 emu @ 9T

扭矩测量范围：±10-5 Nm

芯片尺寸：6×6×1 mm3

安装样品区域：2×2 mm2

最大样品尺寸：1.5×1.5×0.5 mm3

最大样品质量：10 mg

角度转动范围：360°

角速度(度/秒)：0.05-10 (标准模式)

0.005-1 (高精度模式)

角分辨率： 0.05°(标准模式)

0.005°(高精度模式)

【软件功能】

以Windows操作系统为平台，自动控制和采集数据；同时访问系统多项内容：编写sequence程序、数据分析、数据显示；支持同时打开多个文件的可视化操作；文件以多种格式（如图形、文本）显示；通过互联网遥控。

【仪器使用范围】

测量材料的交、直流电阻、Hall效应、I-V曲线、临界电流、热导、Seebeck系数、热电优值、比热、各项磁学参数（振动法、扭矩法）。

【备注信息】

宋文海赵邦传 三号楼131室电话：5591439转131，5591436