热电性能测试仪

由高精度，高灵敏度温度可控的红外线金面反射炉和控制温度用的微型加热源构成。通过PID程序控温，采用四点法的方式精确测定半导体材料及热电材料的Seebeck系数及电导率。试样与引线的接触是否正常V-1装置可以自动检出。

仪器附件：

Seebeck系数：电导率：

　　测量方法：四点法方式测量方法：静态直流方式

　　测量范围：10^-6Ω - 700Ω 测量范围：10^-5V - 10V

　　测量精度：< ±10%　　测量精度：< ±7% 温度范围：RT – 800 – 1000 °C

真空度： - 0.1MPa

样品要求：2-4mm方形或圆形，长度6-20mm

测试气氛：高纯度He气（99.9999%）

联系人： 张建 (zhangjian@issp.ac.cn)

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