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分析测试仪器功能介绍系列报告之四

 时间:2013年6月28日下午3:00-5:00

地点:东区理化大楼西三报告厅 

时间

内容

报告人

15:00-15:40

热分析、比表面和孔径分析

丁延伟

15:40-16:00

顺磁共振

陈家富

16:00-16:20

拉曼光谱

左 健

16:20-16:40

稳态/瞬态荧光光谱

赵智

16:40-17:00

磁学及物性测量系统

赵继印

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